Microscopie à force atomique
Contact : Christine Labrugère
La microscopie à force atomique permet d’observer à l’échelle atomique la topographie d’une surface d’échantillons conducteurs ou isolants issus d’un vaste domaine (...)
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Accueil > Pôle Microanalyse de surface
Pôle Microanalyse de surface
Spectroscopie d’électrons induits par rayons X
Contact : Christine Labrugère
La spectroscopie XPS est bien adaptée à la caractérisation des surfaces des solides. Complémentaire à la spectroscopie d’électrons Auger, elle permet d’analyser (...)
Spectroscopie à Décharge Luminescente
Contact : Christine Labrugère
Cette spectroscopie est bien adaptée à la caractérisation des surfaces sur plusieurs centaines de microns de tous les matériaux solides organiques (polymères) ou (...)
Spectrométrie d’électrons Auger
Contact : Mélanie Vaudescal
La spectroscopie d’électrons Auger est complémentaire de la spectroscopie d’électrons induits par rayons X (XPS). Elle présente l’avantage d’une excellente résolution (...)
Spectrométrie de masse (TOF-SIMS)
Contacts : Jean-Paul SALVETAT - Nithavong CAM
La spectrométrie de masse d’ions secondaires à temps de vol (TOF-SIMS)
Technique d’analyse de très proche surface, sa résolution en profondeur étant de (...)