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Accueil > Pôle Microanalyse de surface

Pôle Microanalyse de surface

Microscopie à force atomique

Contact : Christine Labrugère
La microscopie à force atomique permet d’observer à l’échelle atomique la topographie d’une surface d’échantillons conducteurs ou isolants issus d’un vaste domaine (...)

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Spectroscopie d’électrons induits par rayons X

Contact : Christine Labrugère
La spectroscopie XPS est bien adaptée à la caractérisation des surfaces des solides. Complémentaire à la spectroscopie d’électrons Auger, elle permet d’analyser (...)

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Spectroscopie à Décharge Luminescente

Contact : Christine Labrugère
Cette spectroscopie est bien adaptée à la caractérisation des surfaces sur plusieurs centaines de microns de tous les matériaux solides organiques (polymères) ou (...)

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Spectrométrie d’électrons Auger

Contact : Mélanie Vaudescal
La spectroscopie d’électrons Auger est complémentaire de la spectroscopie d’électrons induits par rayons X (XPS). Elle présente l’avantage d’une excellente résolution (...)

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Microsonde à spectrométrie X

Contact : Nithavong CAM
Le principe de la microsonde à spectrométrie X, connue aussi sous le nom de microsonde de Castaing en hommage au célèbre physicien français Raymond Castaing, consiste à (...)

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Spectrométrie de masse (TOF-SIMS)

Contacts : Jean-Paul SALVETAT - Nithavong CAM
La spectrométrie de masse d’ions secondaires à temps de vol (TOF-SIMS)
Technique d’analyse de très proche surface, sa résolution en profondeur étant de (...)

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