Equipements pour les caractérisations :
- 1 nano sonde Auger (AES) (FEDER)
- 1 spectromètre de masse à temps de vol (TOF-SIMS) (FEDER)
- 2 spectromètres XPS
- 1 spectromètre à décharge luminescente (GDOES)
- 1 microsonde X (WDS et EDS)
- 2 microscopes électroniques à balayage (SEM) : haute résolution (FEG) avec platine cryogénique, à pression variable avec platine Peltier et caméra pour la diffraction (EBSD) et conventionnel, tous équipés en microanalyse X (EDS)
- 3 microscopes électroniques à transmission (TEM) : haute résolution (FEG) équipé d’une caméra haute résolution et d’un spectromètre en perte d’énergie (EELS), et conventionnel (LaB6) équipé d’une caméra large angle adaptée à la diffraction électronique (TED), tous deux équipés en STEM, en microanalyse X (EDS) et en porte-objets standard, double-tilt analytique, refroidi et chauffant
-* 1 microscope à force atomique (AFM)
- 2 microtomographes X de résolution micrométrique ou sub-micrométrique
Equipements pour les préparations :
- 3 amincisseurs par bombardement ionique (ION SLICER, PIPS, Cross Polisher),
- 3 polisseuses (Minimet, Power Pro 4000, Vibromet)
- 2 métalliseurs
- 1 évaporateur
- 1 ultra-cryomicrotome (Reichert Ultracut S).