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L’accès au bâtiment PLACAMAT s’effectue par l’entrée de l’ICMCB : 87 avenue Docteur Albert Schweitzer
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Accès à PLACAMAT
12 mai 2022, par SA.WEB -
Nos tarifs horaires 2022
22 janvier 2021, par SA.WEBLes tarifs horaires ci-dessous sont donnés à titre indicatif. Merci de prendre contact avec nous pour estimer la durée et le coût total d’une prestation préalablement à toute nouvelle demande de contrat via notre site de réservation reservation.placamat.fr. Un devis vous sera transmis après validation de la demande de contrat. Les conditions générales d’utilisation sont disponibles sur le site de réservation, au bas de la page (...)
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Nos collaborations
25 juin 2020, par SA.WEBGrâce aux compétences de son personnel et en mettant à disposition ses équipements, PLACAMAT s’investit dans des projets de recherche :
L’ANR Pc2TES : Peritectic compounds for compact thermal energy storage at high temperatures - Contact local : Philippe Legros
L’ANR Fluididense : Concentrated suspensions : towards denser and less viscous materials - Contact local : Grégory Hauss Pc2TES : ANR-16-CE06-0012-01 Présentation de Pc2TES : Les composés péritectiques pour permettre le développement de (...) -
Spectrométrie de masse (TOF-SIMS)
2 octobre 2018, par SA.WEBContact : Jean-Paul SALVETAT
La spectrométrie de masse d’ions secondaires à temps de vol (TOF-SIMS)
Technique d’analyse de très proche surface, sa résolution en profondeur étant de l’ordre de 2-3 couches atomiques (0.5 nm), la spectroscopie de masse à temps de vol apporte des informations chimiques et moléculaires, et vient en complément de l’XPS et de la spectroscopie d’électrons Auger. C’est une technique de choix pour vérifier l’intégrité d’une structure multicouche, réaliser une cartographie (...) -
Spectrométrie d’électrons Auger
2 octobre 2018, par SA.WEBContact : Mélanie Vaudescal
La spectroscopie d’électrons Auger est complémentaire de la spectroscopie d’électrons induits par rayons X (XPS). Elle présente l’avantage d’une excellente résolution spatiale en largeur et en profondeur. Elle est donc bien adaptée pour analyser les éléments en surface d’un matériau, effectuer des profils en profondeur ou des profils en ligne sur une interface. Le principe des mesures consiste à recueillir les électrons Auger émis par une surface bombardée par des électrons. (...) -
Spectroscopie à Décharge Luminescente
2 octobre 2018, par SA.WEBContact : Christine Labrugère
Cette spectroscopie est bien adaptée à la caractérisation des surfaces sur plusieurs centaines de microns de tous les matériaux solides organiques (polymères) ou inorganiques (céramiques, métaux), conducteurs ou isolants. Le principe consiste à éroder la surface à l’aide d’un plasma radio fréquence ; la matière excitée et ionisée est ensuite analysée en temps réel par un spectromètre optique dans le domaine de longueurs d’onde 110-620 nm.
L’appareillage HORIBA Jobin Yvon (...) -
Spectroscopie d’électrons induits par rayons X
2 octobre 2018, par SA.WEBContact : Christine Labrugère
La spectroscopie XPS est bien adaptée à la caractérisation des surfaces des solides. Complémentaire à la spectroscopie d’électrons Auger, elle permet d’analyser l’évolution de l’environnement chimique d’un élément sur les premières couches atomiques d’un matériau. La surface est bombardée par des photons X qui éjectent des électrons des couches profondes des atomes : on parle ainsi d’effet photoélectrique. L’analyse du spectre en énergie des électrons émis permet d’identifier les (...) -
Microscopie à force atomique
2 octobre 2018, par SA.WEBContact : Christine Labrugère
La microscopie à force atomique permet d’observer à l’échelle atomique la topographie d’une surface d’échantillons conducteurs ou isolants issus d’un vaste domaine d’applications (surface de matériaux solides de toute nature, dépôts chimiques, matériaux biologiques, semi-conducteurs, polymères,…). L’appareil utilise un scanner piézoélectrique X,Y,Z pour balayer un micro levier muni d’une pointe nanométrique dans le plan X,Y de la surface de l’échantillon tout en asservissant le (...) -
Microscopie électronique à balayage
2 octobre 2018, par SA.WEBContact : Philippe LEGROS
La microscopie électronique à balayage permet d’observer une palette très large d’échantillons : échantillons massifs ou pulvérulents, conducteurs ou isolants, solides ou liquides, anhydres ou hydratés (cryo-SEM, SEM à pression variable).
La microscopie électronique à balayage permet d’obtenir des informations morpho métriques, des informations chimiques (SEM HR, cryo-SEM et SEM conventionnel couplés à l’EDS), et des informations texturales (SEM conventionnel couplé à l’EBSD (...) -
Microscopie électronique en transmission
2 octobre 2018, par SA.WEBContact : Marion Gayot
La microscopie électronique en transmission (MET) permet d’obtenir des informations sur la texture (tailles, morphologie des objets), la structure (phase cristalline : diffraction électronique, haute résolution) et la composition (analyse du signal X par EDS, analyse des pertes d’énergies EELS) des échantillons aux échelles nano/micrométriques (MET conventionnelle) et sub-nanométriques (MET HR). La combinaison du mode STEM et de l’analyse EDS permet d’obtenir la répartition (...)
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