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Nos équipements

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PLACAMAT dispose d’équipements récents de hautes performances permettant d’accéder à la composition chimique élémentaire, l’analyse de traces, la détermination des composés, de leurs structures cristallines et des degrés d’oxydations des éléments les constituant, l’analyse des surfaces et des interfaces, l’analyse topographique des surfaces et morphologique des volumes. Tous les équipements ont des résolutions de quelques nanomètres ou micromètres permettant une caractérisation fine de la matière. PLACAMAT dispose également de dispositifs récents pour la préparation des échantillons (polisseuses, amincisseurs à bombardements ioniques, …).


La plateforme dispose des équipements :

Pour les caractérisations :

  • 1 nano sonde Auger (AES) (FEDER)
  • 1 spectromètre de masse à temps de vol (TOF-SIMS) (FEDER)
  • 2 spectromètres XPS
  • 1 spectromètre à décharge luminescente (GDOES)
  • 1 microsonde X (WDS et EDS)
  • 2 microscopes électroniques à balayage (SEM) : haute résolution (FEG) avec platine cryogénique, à pression variable avec platine Peltier et caméra pour la diffraction (EBSD) et conventionnel, tous équipés en microanalyse X (EDS)
  • 3 microscopes électroniques à transmission (TEM) : haute résolution (FEG) équipé d’une caméra haute résolution et d’un spectromètre en perte d’énergie (EELS), et conventionnel (LaB6) équipé d’une caméra large angle adaptée à la diffraction électronique (TED), tous deux équipés en STEM, en microanalyse X (EDS) et en porte-objets standard, double-tilt analytique, refroidi et chauffant
  • 1 microscope à force atomique (AFM)
  • 2 microtomographes X de résolution micrométrique ou sub-micrométrique

Pour les préparations :

  • 3 amincisseurs par bombardement ionique (ION SLICER, PIPS, Cross Polisher),
  • 3 polisseuses (Minimet, Power Pro 4000, Vibromet)
  • 2 métalliseurs
  • 1 évaporateur
  • 1 ultra-cryomicrotome (Reichert Ultracut S).