CNRS

Rechercher




Accueil > Pôle Microtomographie et d’Imagerie 3D

Microtomographie X

publié le , mis à jour le

Contact : Ronan Ledevin

La microtomographie par rayons X est une technique non destructive qui permet la reconstruction d’images en 3 dimensions d’un objet. Lors de l’acquisition, chaque point de l’image projetée contient les informations d’absorption des rayons X de l’échantillon. Plusieurs radiographies X sont prises sous des angles allant de 0 à 180° ou 360° suivant l’appareil utilisé. La microtomographie trouve des applications en micro-électronique, dans les matériaux de fonctions (mousses, matériaux composites, polymères), matériaux de construction (bétons, bois), en géologie (roches), en sciences de la vie (biomatériaux), en anthropologie et en archéologie.

Le Tomographe Versa 500 Zeiss est un micro-tomographe de haute résolution, il permet des acquisitions avec des pixels pouvant atteindre 0,15 µm et des tensions jusqu’à 160kV.
Pour le Nanotom GE, la taille de pixel d’acquisition va de 0,9 à 20 µm avec une source de RX allant jusqu’à 160kV. La taille d’échantillon maximale est de 70x100 mm pour une masse maximale de 1kg.





Matériel disponible :

  • Tomographe Versa 500 Zeiss, 160 kV, 0,2 µm
  • Microtomographe X GE V/TOME/SX