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Microscopie à force atomique

publié le

Contact : Christine Labrugère

La microscopie à force atomique permet d’observer la topographie d’une surface à l’échelle atomique d’échantillons conducteurs ou isolants dans un vaste domaine (surface de matériaux solides de toute nature, dépôts chimiques, matériaux biologiques, semi-conducteurs, polymères,…).
Un micro levier muni d’une pointe nanométrique balaye la surface de l’échantillon en modes variés (contact, contact intermittent appelé tapping,…) et permet par exemple d’accéder à une image en 3D de la surface avec calcul des paramètres de rugosité (Ra, RMS), de dresser des profils en ligne afin de déterminer la taille des particules.

L’appareil VEECO Dimension 3100 peut accepter des échantillons de 13 cm de diamètre sur une hauteur de 15 mm maximum et autorise des mesures de rugosité du dixième de nanomètre à quelques micromètres à pression atmosphérique et à température ambiante.




Matériel disponible :

  • Microscope à force atomique VEECO Dimension 3100